JW-DX动态比表面积测定仪
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产品详细介绍
氮分压P/P0范围:0.05-0.35
比表面范围:0.01m2/g-无上限
炭黑标准样品重复精度:±1%
测试效率:对比法5min
产品概览
JW-DX 外观结构图
规格参数
| 型号 | JW-DX |
|---|---|
| 测试原理 | 低温氮吸附，流动色谱法 |
| 方法特色 | 发明专利技术。 采用吸附峰，与静态容量法相同，四个样品独立测试，无干扰，信号峰尖锐，＜10m2/g小比表面样品测试精度明显提高 |
| 测试功能 | 对比法比表面积测试； 单点、多点BET比表面积测试 |
| 测试气体 | 高纯氮气（99.999%）+高纯氦气（99.999%） |
| 氮分压P/P0范围 | 0.05-0.35 （多点BET） |
| 测试范围 | 比表面积0.01m2/g至无已知上限， 不适用于微孔材料检测 |
| 重复精度 | 炭黑标准样品≤± 1.0%； 与静态容量法测试精度高度一致 |
| 分析站 | 4个 |
| 测试效率 | 对比法测试每个样品约需5min； 多点BET测试每个样品约需25min |
| 主机规格 | 长610mm×宽460mm×高680mm，重量约48Kg； |
| 环境温度要求 | 室温，建议配备空调 |
| 环境湿度要求 | 10%-90% |
| 电源要求 | 交流220V±20V，50/60HZ，最大功率300W，电流5A ； |
| 推荐应用领域 | 石墨、三元材料、磷酸铁锂、锰酸锂、钴酸锂等等电池正负极材料； 医药辅料； 金属粉末； 金属氧化物粉末； 稀土发光材料； 纳米碳酸钙； 等等 |
| 脱气站 | 选配外置式4站或8站真空加热脱气机； |
产品特点
发明专利
发明专利DX型仪器，不采用常规的脱附过程而采用吸附过程进行峰面积计算，完全避免了常温下样品可能脱附不完全带来的测试误差，非常适合三元材料、石墨等电池正负极材料小比表面的测定；（专利号20140320453.2）
脱附峰
峰形尖锐，每个样品吸附引起的氮浓度改变完全不被冲淡，样品测试灵敏度大幅提高，在保证吸附充分的条件下，大大提高了测试效率，一次完成4个样品的对比法测试只需约20min
氮分压自动调节
多点BET测试采用70ml/min及30ml/min高精度质量流量控制器全自动进行氮气分压调节，控制精度高、误差小，确保经过样品表面气体流量的稳定性与精确性；（专利号第2517307号）
标定气体
BET测试标定气体采用氮气，标定系统全电磁阀自动控制，打破传统六通阀控制的局限，具有性；（专利号第2508179号）
可升级性强
DX型仪器标准配置对比法比表面测试功能，可升级为多点BET比表面测试型仪器；
动态外置式4站或8站真空加热脱气机，属选配设备，建议用户选配，亦可在今后随时添加
分析站
4个，每个样品独立进行吸附过程，实现了多样品的无干扰、无差异测试，完全保证每个分析站测试结果的平行性，重复性误差≤± 1.0%
真空加热脱气
选配。外置式4站或8站真空脱气机，可同时进行4个或8个样品的脱气预处理，配合比表面仪主机同时使用，可大大提高测试效率。最高脱气温度400℃；（专利号第2516757号）
杜瓦瓶
1L容量真空玻璃内胆杜瓦瓶，保温效果远远于金属内胆液氮杯；（专利号第2509179号）
防样品飞溅技术
自主研发，设计内置式防飞溅单元，可有效防止粉体样品随流动气体流入仪器内部管路，可有效避免仪器受到污染
操作便利，人性化设计
比表面仪器全自动控制及操作；
测试界面上动态显示每个样品的吸附或脱附过程，吸附峰或脱附峰实时显示，每个样品的峰面积及吸附量实时计算；对比法测试时，每个样品的比表面结果实时显示 测试数据自动保存为源文件，支持不联机离线分析，可拷贝；
动态真空加热脱气机配置微型真空泵及加热炉，炉体温度≦400°C±1°C，样品加热脱气后转移到比表面仪主机上即可进行测试
小比表面样品测试
小比表面样品测试图一
小比表面样品测试图二
多点BET比表面测试
多点BET比表面测试图一
多点BET比表面测试图二
精微高博成立于2004年，总部和研发中心设于北京，生产基地位于天津，在美国、德国设有子公司，是一家深耕全球市场的科学仪器制造企业。公司产品涵盖吸附类仪器、热分析仪器、X射线衍射仪及反应装置等关键领域。
作为全球材料分析仪器领域的创新推动者，精微始终秉持“为新材料的研究和制造提供高质量、高易用性、高性价比的先 进测量仪器”的使命，持续探索材料表征前沿技术，加速技术迭代，为全球客户提供多元化产品及服务解决方案。
